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https://nccur.lib.nccu.edu.tw/handle/140.119/48928
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| Title: | 專利權之衡量與評價-以某記憶體模組公司為例
Measurement and valuation of patent-by taking memory module company for example |
| Authors: | 蕭鈞昱 |
| Contributors: | 吳安妮
蕭鈞昱 |
| Keywords: | 專利權
衡量
評價 |
| Date: | 2009 |
| Issue Date: | 2010-12-08 01:53:17 (UTC+8) |
| Abstract: | 隨著知識經濟時代的到來，無形資產對於企業決策的重要性與日俱增，其中無形資產裡的專利權是企業維持競爭力的一大利器，因此對於專利權進行衡量與評價是未來每個企業都必須面對的課題。
專利品質之衡量透過專利品質衡量表之設定，透過資料庫數據與專利說明書內容以及客觀存在之事實，客觀衡量標的專利之專利品質；輔以透過訪談與作者主觀判斷所得之主觀性衡量結果，綜合主客觀衡量結果，衡量出專利之品質。
專利之評價首先透過可評價性測試進行評價模式媒合，找出適合之評價模式，再為適合之評價模式設定出各項評價參數並實際計算出專利權價值數字，將評價與衡量結合，建立一套完整的專利權價值評估系統。
本研究分別以不同特性之專利組合為研究標的。經主客觀考量後，決定專利品質。評價上專利組合透過可評量測試後分別以市場法與收益法進行評價，針對各項參數進行設定說明與假設進而計算出實際數字並分析之。
經過衡量與評價後，本研究將針對各項衡量指標做出一適用性結論，並選出最適用於實務界之評價模式。
關鍵字：專利權、衡量、評價
With the era of knowledge economy, intangible assets play an important role in corporate decision-making.Intangible assets in which the patent is the company to maintain a major competitive weapon, so the measurement and valuation of patents which every business must face in the future.
Patent quality is measured through the setting of data such as database about patent and the content of patent specifications and the existence of objective facts.By enforcing the measurement way I mentioned so that I can get a objective outcome.
The valuation of patent start from valuation test.The purpose of valuation test is matching a suitable valuation mode to valuate.After valuation test,I will set out the parameters to calculate the actual number of patent value.Finally,I will combine measurement and valuation to establish a patent evaluation system
Through objective and subjective consideration,I make a conclusion for patent quality. After valuation test,I chose market method and income method to valuate.Through the setting of parameters and assumption,I calculate the actual number to approve the feasibility of valuation mode.
After measurement and valuation, I will focus on the applicability conclusion of the measurement index and select the most suitable valuation model for practitioners.
Key words：Patent、Measurement、Valuation |
| Reference: | 一、 中文部分
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二、 英文部分
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| Description: | 碩士
國立政治大學
會計研究所
97353036
98 |
| Source URI: | http://thesis.lib.nccu.edu.tw/record/#G0973530362 |
| Data Type: | thesis |
| Appears in Collections: | [會計學系] 學位論文
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