政大機構典藏-National Chengchi University Institutional Repository(NCCUR):Item 140.119/85163
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    政大機構典藏 > 商學院 > 會計學系 > 學位論文 >  Item 140.119/85163


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    题名: 半導體業生產績效作業層面影響因素之實地實證研究
    作者: 龔志忠
    Kung, Chih-Chung
    贡献者: 吳安妮
    Ann Wu
    龔志忠
    Kung, Chih-Chung
    关键词: 生產績效
    晶圓製造
    作業制成本制
    半導體產業
    manufacturing performance
    wafer production
    activity based costing
    semiconductor
    日期: 2001
    上传时间: 2016-04-15 16:11:05 (UTC+8)
    摘要: 對晶圓代工產業而言：生產的彈性及穩定的高良率是競爭優勢之所在，為維持這兩項核心能力，企業必須持續改進製程以提高生產績效。Vadgama, Trybula (1996)曾對晶圓廠生產績效之改善提出建議方案：作者認為將模型工具與作業制成本制整合的管理方式，可辨認出對生產績效具有重大影響的生產區域，再以作業分析找出影響因素並提出相對應的解決方案，進而達到持續改善的目標。
    參考文獻: 一、中文部份
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    描述: 碩士
    國立政治大學
    會計學系
    資料來源: http://thesis.lib.nccu.edu.tw/record/#A2002001376
    数据类型: thesis
    显示于类别:[會計學系] 學位論文

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